CEM3000系列中圖儀器掃描電鏡設(shè)備用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

CEM3000系列中圖儀器掃描電鏡設(shè)備采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節(jié)省了時間成本，特別適用于需要快速獲取結(jié)果的應(yīng)用場景，如工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量控制、快速篩選樣品等。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

應(yīng)用場景

材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

應(yīng)用案例

金屬材料分析

花粉微觀形態(tài)

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設(shè)計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

部分技術(shù)指標

如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。